Highly sensitive active medium of sensor NO2 , based on cholesteric  nematic mixture with impurities of carbon nanotubes

З.М. Микитюк; М.В. Вісьтак; І.Т. Когут; В.С. Петришак

doi:10.15330/pcss.22.3.426-431

Автор(и)

З.М. Микитюк Національний університет "Львівська політехніка"
М.В. Вісьтак Національний медичний університет ім. Данила Галицького
І.Т. Когут Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника
В.С. Петришак Національний університет "Львівська політехніка"

DOI:

https://doi.org/10.15330/pcss.22.3.426-431

Ключові слова:

сенсор NO2, активне середовище, холестерико-нематична суміш, вуглецеві нанотрубки

Анотація

В роботі приведені результати дослідження параметрів високочутливого активного середовища сенсора NO₂ на основі холестерико-нематичної суміші (ХНС) з домішкою вуглецевих нанотрубок. Отримано залежності зміни довжини хвилі двох мінімумів пропускання від концентрації NO₂ для ХНС з одностінковими, двостінковими та багатостінковими нанотрубками при різних концентраціях нанотрубок та двох концентрацій нематично рідкого кристалу (НРК) 5СВ. Встановлено, що змінюючи співвідношення між концентраціями нанотрубок та нематичних рідких кристалів, можна отримувати суміші, які мають максимальний коефіцієнт спектральної чутливості в заданому діапазоні концентрації газу.

Посилання

T. Nezel, U.E. Spichiger-Keller, C. Ludin, A. Hensel, Chimia 55(9), 725 (2001).

J.F. Fernández-Sánchez, T. Nezel, R.Steiger, U.E. Spichiger-Keller, Sensors and Actuators B: Chemical 113(2), 630 (2006); https://doi.org/10.1016/j.snb.2005.07.012.

B. Zakrzewska, Metrology and Measurement Systems 22(1), 101 (2015); https://doi.org/10.1515/mms-2015-0005.

Z. Bielecki, J. Janucki, A. Kawalec, J. Mikołajczyk, N. Palka, M. Pasternak, T. Pustelny, T. Stacewicz, J. Wojtas, Metrology and Measurement Systems 19(1), 3 (2012); https://doi.org/10.2478/v10178-012-0001-3.

T.A. Bednaya, S.P. Kovalenko, T.V. Semenistaya, V.V. Petrov, A.N. Korolev, News of Higher Educational Institutions. Electronics 4(96), 66 (2012).

S. Capone, A. Forleo, L Francioso, R. Rella, P Siciliano, J. Spadavecchia, D. Presicce, A.M. Taurino, R. Rella, D.S. Presicce, A.M. Taurino, D.A. Forleo, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials 5(5), 1335 (2003); https://doi.org/10.1002/chin.200429283.

A. Druzhynin, V. Holota, I. Kohut, S. Sapon, Yu. Khoverko, ECS Transactions 14(1), 569 (2008); https://doi.org/10.1149/1.2956075.

M. Vistak, Z. Mykytyuk, F. Vezyr, V. Polishchuk, Molecular Crystals and Liquid Crystals 672(1), 67 (2018); https://doi.org/10.1080/15421406.2018.1542108.

M. Vistak, V. Dmytrah, R. Fafula, I. Diskovskyi, Z. Mykytyuk, O. Sushynskyi, G. Barylo, Y. Horbenko, 7th International Conference Nanomaterials: Application & Properties (NAP) (IEEE, Odessa, 2017). P. 04NB13; https://doi.org/10.1109/NAP.2017.8190326.

M.V. Vistak, V.E. Dmytrakh, Z.M. Mykytyuk, V.S. Petryshak, Y.Y. Horbenko, Functional Materials 24(4), 687 (2017); https://doi.org/10.15407/fm24.04.687.

T.V. Prystay, Z.M. Mykytyuk, O.Y. Sushynskyi, A.V. Fechan, M.V. Vistak, Journal of the Society for Information Display 23(9), 438 (2015); https://doi.org/10.1002/jsid.380.

H.K. Bisoyi, S. Kumar, Chemical Society Reviews 40(1), 306 (2011); https://doi.org/10.1039/B901793N.

J.P. Lagerwall, G. Scalia, Current Applied Physics 12(6), 1387 (2012); https://doi.org/10.1016/j.cap.2012.03.019.

G.U. Sumanasekera, C.K.W. Adu, S. Fang, P.C. Eklund, Physical Review Letters 85(5), 1096 (2000); https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.85.1096.

V. Petryshak, Z. Mikityuk, M. Vistak, Z. Gotra, A. Akhmetova, W. Wójcik, A. Assembay, Przeglad Elektrotechniczny 93(3), 117 (2017); https://doi.org/10.15199/48.2017.03.27.

Z. Mykytyuk, A. Fechan, V. Petryshak, G. Barylo, O. Boyko, 13th International Conference on Modern Problems of Radio Engineering, Telecommunications and Computer Science (TCSET) (IEEE, Lviv, 2016). P. 402; https://doi.org/10.1109/TCSET.2016.7452070.

K. Bogumil, J. Orphal, T. Homann, S. Voigt, P. Spietz, O. C. Fleischmann, A. Vogel, M. Hartmann, H. Kromminga, H. Bovensmann, J. Frerick, J. P. Burrows, Journal of Photochemistry and Photobiology A: Chemistry 157(2-3), 167 (2003); https://doi.org/10.1016/S1010-6030(03)00062-5.

J. Saarela, T. Sorvajärvi, T. Laurila, J. Toivonen, Optics express 19(S4), A725 (2011); https://doi.org/10.1364/OE.19.00A725.

M. Degner, N. Damaschke, H. Ewald, E. Lewis, Instrumentation & Measurement Technology Conference Proceedings (IEEE, Austin, USA, 2010). P. 1382; https://doi.org/10.1109/IMTC.2010.5488239.

O. Sushynskyi, M. Vistak, Z. Gotra, A. Fechan, Z. Mikityuk, Proc. SPIE 9127, Photonic Crystal Materials and Devices XI, 91271F (2014); https://doi.org/10.1117/12.2051742.

S. Santucci, S. Picozzi, F.Di. Gregorio, L. Lozzi, C. Cantalini, L. Valentini, J.M. Kenny, B. Delley, Journal of Chemical Physics 119(20), 10904 (2003); https://doi.org/10.1063/1.1619948.

Wai-Leung Yim, X. G. Gong, Zhi-Feng Liu, The Journal of Physical Chemistry B 107(35), 9363 (2003); https://doi.org/10.1021/jp027647l.

O. Sushynskyi, M. Vistak, V. Dmytrah, 13th International Conference on Modern Problems of Radio Engineering, Telecommunications and Computer Science (TCSET) (IEEE, Lviv, Ukraine, 2016). P. 418; https://doi.org/10.1109/TCSET.2016.7452075.

Z. Mykytyuk, G. Barylo, V. Virt, M. Vistak, I. Diskovskyi, Y. Rudyak, 2018 International Scientific-Practical Conference on Problems of Infocommunications, Science and Technology, PIC S and T 2018-Proc.,art.no.8632115, (Kiyv, 2018). P.177; https://doi.org/10.1109/INFOCOMMST.2018.8632115.

W. Wójcik, Z. Mykytyuk, M. Vistak, G. Barylo, R. Politanskyi, I. Diskovskyi, I. Kremer, M. Ivakh, W. Kotsun, Przeglad Elektrotechniczny 96(4), 178 (2020); https://doi.org/10.15199/48.2020.04.37.

M. Debliquy, D. Lahem, A. Bueno-Martinez, C. Caucheteur, M. Bouvet, I. Recloux, J.-P. Raskin, M.-G. Olivier, Sensors 18(3),740 (2018); https://doi.org/10.3390/s18030740.

R. Politansryi, M. Vistak, G. Barylo, A. Andrushak, Optical Materials 102, 109782 (2020); https://doi.org/10.1016/j.optmat.2020.109782.

A. Veryga, R. Politanskyi, V. Lesinskyi and T. Ruda, 15th International Conference on Advanced Trends in Radioelectronics, Telecommunications and Computer Engineering (TCSET), (IEEE, Lviv-Slavske, Ukraine, 2020). P. 162; https://doi.org/10.1109/TCSET49122.2020.235414.

I.T. Kogut, V.I. Holota, A.A. Druzhinin, V.V. Dovhij, Journal of Nano Research 39, 228 (2016); https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/JNanoR.39.228.