Автоматизація вимірювань фотоелектричних параметрів високоімпедансних напівпровідникових плівок
DOI:
https://doi.org/10.15330/pcss.19.4.363-367Ключові слова:
електричні параметри, фотопровідність, автоматизація, мікроконтролерАнотація
Описано методику вимірювання електропровідності та фотопровідності напівпровідникових плівок з високим електричним опором. Представлена електрична схема та розроблена комп’ютерна програма, що забезпечує автоматизацію вимірювань, реєстрацією і первинною обробку даних, з можливість побудови графіків часових залежностей для попереднього аналізу експериментальних даних вже в процесі вимірювання
Посилання
D. M. Freik, V. M. Chobanyuk, L. I. Nikiruy, Physics and Chemistry of Solid State 7(3), 405 (2006).
D. M. Freik, V. M. Chobanyuk, O. S. Krynitsky, I. V. Horichok, Physics and Chemistry of Solid State 13(3), 744 (2012).
T. M. Razykov, K. M. Kuchkarov, B. A. Ergashev, A. Khubbimov, M. K. Khakkulov, Effect of chloride treatment on the electrophysical properties of CdTe films obtained by the XMPO method. Conference dedicated to the 80th anniversary of Academician M.S. Saidov (Tashkent, 2010). Pp. 265.
E. V. Kuchis, Methods for studying the Hall effect (Soviet Radio, Moscow, 1974).
N. F. Kovtonyuk, Measurement of parameters of semiconductor materials (Metallurgy, Moscow, 1970).
Yu. V. Klevkov, S. A. Kolosov, A. F. Plotnikov, Physics and Technology of Semiconductors 41(6) 323 (2007).
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
